Comprehensive Solutions for Material Analysis

Characterise. Understand. Solve.

Advanced materials analysis solutions for your most challenging applications.

Oxford Instruments cung cấp các công nghệ phân tích đặc tính bổ trợ lẫn nhau, giúp bạn hiểu sâu hơn về vật liệu từ nhiều góc độ. Hãy liên hệ đội ngũ địa phương để trao đổi về nhu cầu nghiên cứu và tìm ra giải pháp phù hợp giúp đẩy nhanh quá trình nghiên cứu.

Talk to our Experts

EDS Detectors for SEM/TEM and FIB

Chúng tôi cung cấp giải pháp từ phân tích vi mô EDS thường quy yêu cầu khả năng thu thập dữ liệu tốc độ cao đến NanoAnalysis tiên tiến, nơi hiệu năng là yếu tố then chốt. Được trang bị đầu dò SDD Ultim Max Infinity, giải pháp khai thác tiềm năng vô hạn của EDS, bao gồm SDD có diện tích lớn nhất thế giới 170 mm² và độ phân giải carbon được đảm bảo ở mức 46 eV hoặc tốt hơn cho mọi kích thước cảm biến.

  • Xplore thu thập dữ liệu nhanh cho phân tích EDS thời gian thực, mang lại kết quả đáng tin cậy cho các ứng dụng phân tích thường quy.
  • Cung cấp giải pháp trọn gói cho Gunshot Residue, Mineral Liberation, ThinFilm và nhiều ứng dụng khác.
  • Live Chemical Imaging là bước phát triển tiếp theo của AZtecLive Chemical Imaging.

Request Pricing

Đầu dò SDD Ultim Max ∞ (Infinity) khai thác tiềm năng vô hạn của EDS để phân tích đặc tính vật liệu trong SEM. Sản phẩm kết hợp độ chính xác, độ nhạy và tốc độ vượt trội, hỗ trợ AZtecLive giải quyết các bài toán phân tích phức tạp hơn.

Why Infinity

  • Độ nhạy cao nhất được đảm bảo với cảm biến 40–170 mm², tất cả đều cho hiệu năng phân tích như nhau.
  • Đảm bảo độ phân giải CKα 46 eV hoặc tốt hơn ở tốc độ đếm tới 50.000 cps.
  • Đảm bảo độ phân giải MnKα 127 eV hoặc tốt hơn ở tốc độ đếm tới 200.000 cps.
  • Tru-Q IQ tối ưu xử lý phổ riêng cho từng đầu dò.
  • Xử lý xung Infinity kết hợp hiệu chỉnh pile-up giúp xác định nguyên tố và hiển thị phân bố nguyên tố không có nhiễu giả.
Download Brochure Learn more

Xplore là đầu dò EDS nhỏ gọn, tốc độ thu thập cao, được thiết kế cho phân tích vi mô thường quy trong SEM. Sản phẩm mang lại chất lượng và độ chính xác như các đầu dò diện tích lớn Ultim Max Infinity nhưng trong thiết kế nhỏ gọn hơn, giảm chi phí và độ phức tạp mà không đánh đổi độ chính xác, độ tin cậy hay chất lượng.

Tính năng chính

  • Kích thước cảm biến: 15, 30 và 65 mm²
  • Tốc độ: lập bản đồ ở tốc độ đếm >1.000.000 cps
  • Độ phân giải đảm bảo: Mn Kα <129 eV tại 100 Kcps cho mọi kích thước
  • Phân tích định lượng: ở tốc độ đếm >100 Kcps
  • Phạm vi phát hiện: 30/65 mm² từ Be–Cf; 15 mm² từ B–Cf

Download Brochure Learn more

AZtecLive khi được kết hợp với Ultim Max Infinity khai thác tiềm năng vô hạn của EDS, với quy trình cho Live Chemical Imaging, phân tích định tính, định lượng, lập bản đồ tia X và quét đường.

Learn more

Tìm hiểu những khả năng với các đầu dò Infinity của Oxford Instruments

  • Điều gì mới và khác biệt ở các đầu dò Infinity EDS
  • Tru-Q IQ xử lý phổ tối ưu riêng cho từng đầu dò giúp tăng độ chính xác và độ nhạy như thế nào
  • Cách phân tích các cấu trúc nano nhỏ và phức tạp hơn
  • Cách EDS lập bản đồ nhanh và chính xác hơn, với độ nhạy bắt đầu tương đương WDS trong một số ứng dụng

CMOS EBSD Detectors 

Các đầu dò EBSD đa năng hàng đầu kết hợp với phần mềm phân tích vượt trội

Dòng đầu dò CMOS gồm Symmetry S3, C-Nano+ và C-Swift+ mang lại hiệu năng vượt trội cho mọi loại phân tích EBSD. Thiết kế sợi quang không thấu kính độc đáo kết hợp độ nhạy cao với tốc độ phân tích nhanh, đảm bảo chất lượng dữ liệu tối ưu.

Request Pricing

Symmetry S3 là đầu dò EBSD all-in-one thực thụ duy nhất trên thị trường, dựa trên Symmetry – đầu dò EBSD đầu tiên trên thế giới sử dụng công nghệ CMOS tiên tiến

  • Tốc độ indexing đảm bảo >5.700 pps ở pattern 156 × 128 pixel
  • Độ phân giải 1244 × 1024 pixel – lý tưởng cho HR EBSD
  • Kết nối sợi quang độc đáo với biến dạng dưới pixel
  • Độ nhạy cực cao cho mọi loại phân tích
  • Điều chỉnh góc đầu dò bằng phần mềm
  • Độ nhạy cao nhất >1.000 pps/nA
  • Biến dạng dưới pixel đảm bảo độ chính xác góc dưới 0,05°

Learn more

Các đầu dò EBSD dòng C+, gồm C-Nano+ và C-Swift+, là đầu dò thế hệ thứ 2 thuộc phân khúc phổ thông cho mọi ứng dụng EBSD

C-Nano+ đạt tốc độ thu thập trên 600 pps với pattern 311 × 256 pixel, nhanh khoảng 5–6 lần so với các đầu dò CCD tương đương

  • Pattern độ phân giải 1244 × 1024 pixel – lý tưởng cho EBSD độ phân giải cao
  • Tốc độ thu thập >600 pps
  • Sợi quang độ nhạy cao cho phân tích năng lượng thấp và dòng thấp
  • Hình ảnh không biến dạng
Learn more

C-Swift+ sử dụng cảm biến CMOS tùy biến kết hợp với sợi quang, mang lại cả tốc độ và độ nhạy, đảm bảo kết quả chất lượng cao ngay cả với vật liệu khó phân tích nhất

  • Tốc độ indexing đảm bảo >2.000 pps
  • EBSP 622 × 512 pixel ở 250 pps
  • Sợi quang độ nhạy cao cho phân tích năng lượng thấp và dòng thấp
  • Hình ảnh không biến dạng
Download Brochure Learn more

AZtecHKL là nền tảng phần mềm thu thập dữ liệu EBSD linh hoạt và trực quan ออกแบบเพื่อใช้งานง่ายและให้ผลลัพธ์คุณภาพสูงสม่ำเสมอ พร้อม tích hợp hoàn toàn với EDS, biến thu thập dữ liệu EBSD hoặc TKD thành quy trình thường quy

  • Tailored Workflow: sử dụng chuyên môn EBSD của Oxford Instruments để tối ưu cấu hình cho các phép đo lặp lại
  • EBSD Shadow Masking: giảm ảnh hưởng của bóng do hình dạng mẫu gồ ghề hoặc phức tạp
  • Batch Export: đơn giản hóa xử lý dữ liệu và chuyển vào quy trình phân tích, lưu trữ và báo cáo
  • HTML Project Report: ghi lại nhất quán thiết lập, thu thập và phân tích
  • Tru-I Indexing Engine: giúp thu thập pattern tốt nhất và indexing chính xác, tin cậy, tự động
Learn more

AZtecCrystal là phần mềm xử lý dữ liệu EBSD hướng tới tương lai, kết hợp giao diện hiện đại với các chức năng cao cấp như phân tích lệch mạng, tái dựng hạt mẹ và MapSweeper để phân tích lại bộ dữ liệu bằng kỹ thuật so khớp pattern

Download Brochure Learn more

Unity BEX Imaging Detector

Thiết kế Unity tích hợp cảm biến electron tán xạ ngược và tia X trong một thiết bị, đặt ngay dưới pole piece để tối đa hóa thu tín hiệu và giảm hiệu ứng bóng của mẫu chưa đánh bóng. Hệ thống Unity BEX/EDS sử dụng công nghệ EDS mới nhất, điện tử siêu nhanh và thuật toán xử lý phổ tiên tiến, mang lại độ nhạy cao hơn và tốc độ nhanh tới 100 lần so với hệ thống thông thường, cho phép phân tích mẫu nhạy, bề mặt gồ ghề và nguyên tố vết (>0,1 wt%) trong điều kiện SEM tiêu chuẩn


Request Pricing

Download Brochure Learn more

BEX là kỹ thuật phân tích tiên phong cho SEM, kết hợp tạo ảnh electron tán xạ ngược và tia X (BEX) đồng thời trong một kỹ thuật, tích hợp ưu điểm của cả hai để rút ngắn thời gian đi đến khám phá

Learn more
BEX coloured electron image
Backscattered electron image

Kỹ thuật BEX đang thay đổi cách chúng ta sử dụng SEM như thế nào

Tìm hiểu kỹ thuật tạo ảnh BEX và cách đầu dò Unity cách mạng hóa phân tích SEM qua nhiều loại mẫu

Bạn sẽ học được:

  • Kiến thức cơ bản về BEX và đầu dò Unity
  • Cách BEX giải quyết vấn đề thực tế trong pin, địa chất, hợp kim và điện tử
  • Cách sử dụng BEX trong điều kiện khắc nghiệt như áp suất thay đổi và độ phóng đại cao

Confocal Raman Imaging Microscopes

Kính hiển vi Raman đồng tiêu tạo ảnh của Oxford Instruments cung cấp đặc tính hóa học tiên tiến với tốc độ, độ nhạy và độ phân giải hàng đầu. witec360 có cấu hình phù hợp với nhiều ngân sách, môi trường và loại mẫu; kiến trúc mô-đun cho phép cấu hình theo nhu cầu và tái cấu hình khi thí nghiệm phát triển. Hỗ trợ bước sóng kích thích từ UV qua VIS đến NIR và truyền chùm tia bằng sợi quang cho bố trí phòng thí nghiệm linh hoạt

Request Pricing

witec360 đặt ra tiêu chuẩn cao nhất về hiệu năng tạo ảnh Raman đồng tiêu. Mọi thành phần được tối ưu để đạt hiệu suất truyền qua và tính nhất quán tối đa, cho kết quả chính xác chỉ trong vài giây

Why witec360

  • Hệ thống tạo ảnh Raman hiệu năng cao cấp nghiên cứu
  • Phân tích Raman tương quan với PL, AFM, SHG, TCSPC, đo biên dạng và SEM
  • Thiết lập mô-đun, tùy biến và sẵn sàng cho tương lai
  • Dải phổ rộng từ kích thích UV đến NIR với độ phân giải cao
  • Nhiều tùy chọn tự động hóa và truy cập đa người dùng trực quan
Download Brochure Learn more

Kính hiển vi Raman Imaging và SEM tích hợp hoàn toàn đầu tiên trên thế giới

RISE Microscopy là kỹ thuật hiển vi tương quan mới kết hợp SEM và Raman đồng tiêu, liên kết đặc tính bề mặt siêu cấu trúc với thông tin hợp chất phân tử

  • Chuyển đổi nhanh giữa phép đo Raman và SEM
  • Tự động chuyển mẫu giữa các vị trí đo
  • Giao diện phần mềm tích hợp thân thiện
  • Tương quan kết quả đo và chồng ảnh
  • Không đánh đổi khả năng tạo ảnh SEM và Raman
Download Brochure Learn more

alphaCART là hệ thống Raman đồng tiêu di động dành cho các ứng dụng cần đưa phòng thí nghiệm đến mẫu. Độ đồng tiêu và độ nhạy cao cho phép đo qua kính và cửa sổ, nghiên cứu khí hoặc quá trình hóa học bên trong buồng phản ứng. Đặc biệt hữu ích cho nghệ thuật, khảo cổ, địa chất và khoa học vật liệu

Lợi ích

  • Mẫu lớn không thể đặt dưới kính hiển vi
  • Vật thể dễ vỡ hoặc quý giá không thể di chuyển
  • Mẫu phát huỳnh quang với tín hiệu nền được giảm thiểu
  • Khí và chất lỏng trong vật chứa bằng kính
  • Mẫu nhiệt độ cao với nền bức xạ vật đen được giảm hiệu quả
Download Brochure Learn more

Atomic Force Microscopy

AFM Asylum Research của Oxford Instruments được sử dụng rộng rãi trong khoa học vật liệu, polymer, màng mỏng, năng lượng và lý sinh. Ngoài tạo ảnh địa hình và độ nhám, AFM còn cung cấp độ phân giải và đo định lượng vượt trội cho đặc tính nano-điện, nano-cơ và điện-cơ. Các dòng Cypher, MFP-3D, Jupiter và Vero đáp ứng nhiều nhu cầu về hiệu năng, tính linh hoạt và ngân sách

Request Pricing

AFM thế hệ mới đo chính xác độ dịch chuyển thực của đầu tip bằng QPDI. Công nghệ QPDI được cấp bằng sáng chế, dựa trên nền tảng Cypher, mang lại độ chính xác, độ chuẩn xác và độ lặp lại cao hơn

Quadrature Phase Differential Interferometry:

  • Đo độ dịch chuyển thực của đầu tip
  • Cải thiện độ nhạy đo
  • Tránh nhiễu chéo giữa lực theo phương đứng và trong mặt phẳng
  • Hiệu chuẩn chính xác theo bước sóng ánh sáng
Download Brochure Learn more

AFM cho mẫu lớn với độ phân giải, tốc độ, tính dễ sử dụng và linh hoạt vượt trội – hỗ trợ mẫu đường kính tới 210 mm.

  • Đầu dò lắp sẵn: thao tác bằng ngón tay thay vì nhíp
  • Quy trình có hướng dẫn: phần mềm hướng dẫn thiết lập và điều khiển các bước, giảm độ phức tạp và nguy cơ hư hỏng
  • Camera quan sát bên: dễ dàng đánh giá khoảng cách giữa đầu dò và mẫu
  • FFM-Topography với AutoPilot: chọn vùng quét và nhấn Start, thuật toán tự động tối ưu thông số
Download Brochure Learn more

AFM đã được kiểm chứng, được thiết kế cho độ phân giải, tốc độ và tính linh hoạt vượt trội

Dòng Cypher mang lại hiệu năng AFM hàng đầu trên nền tảng siêu ổn định, nhiễu thấp, cho phép tạo ảnh nhanh với độ phân giải cao và ứng dụng rộng rãi

  • Tiêu chuẩn vàng cho nghiên cứu vật liệu 2D
  • Liên tục đạt độ phân giải cao hơn AFM khác
  • Quét nhanh, cho kết quả trong vài giây
  • Định vị laser và photodiode bằng motor giúp đơn giản hóa thiết lập
  • Nhỏ gọn nhưng có tiềm năng mở rộng năng lực lớn
Download Brochures Learn more

Nanoindentation

Accuracy, Speed, Operando Testing

FemtoTools, hiện là một phần của Oxford Instruments, tiếp tục dẫn đầu về giải pháp thử cơ học siêu chính xác. Dựa trên kỹ thuật Thụy Sĩ, công nghệ giúp nhà nghiên cứu, kỹ sư và nhà sản xuất đo những lực nhỏ nhất với độ chính xác cao

Request Pricing

Nanoindentation siêu nhanh trong điều kiện operando

iX05 là nanoindenter độc lập dựa trên MEMS, được tối ưu để phân tích tính chất vật liệu trong các điều kiện operando như nhiệt độ cao, thấp và tốc độ biến dạng cao

Why iX05?

Operando Nanoindentation

  • Nanoindentation nhiệt độ cao với gia nhiệt chủ động đầu tip tới +800°C
  • Nanoindentation cryogenic xuống tới -150°C

Ultra-Fast Nanoindentation

  • Tốc độ tới 30 lần đo mỗi giây
  • Cảm biến lực MEMS cộng hưởng tới 100 kHz kết hợp điện tử lấy mẫu 2 MHz và phản hồi 500 kHz

Ultra-High Resolution 

Nanoindentation độ phân giải siêu cao với khả năng lặp lại vượt trội, phát hiện cả thay đổi nhỏ nhất về độ cứng và mô đun

Download Brochure Learn more

Nanoindenter FIB/SEM in-situ cho thử nén, kéo và phá hủy mẫu vi mô và nano, đồng thời tạo ảnh độ phân giải cao bằng SEM

Why NMT04?

  • Cảm biến lực MEMS: dải động tới 100 kHz và noise floor thấp tới 500 pN
  • Điều khiển độ dịch chuyển thực: đo và so sánh tính chất cơ học ở độ sâu ấn nhất quán
  • Khung đo mở: hoạt động với đầu dò EBSD hoặc STEM trong SEM, cho phép quan sát và phân tích vi cấu trúc đồng thời trong quá trình thử
Download Brochure Learn more

Nanoindenter độc lập để đo tính chất cơ học cục bộ của vật liệu với độ phân giải và tốc độ cao trong không khí, chất lỏng hoặc khí trơ

Why iO4?

  • Cảm biến lực MEMS: dải động tới 100 kHz và noise floor thấp tới 500 pN\
  • Noise floor <50 pm cho phép đo chính xác ở độ sâu rất nông, với đường cong ấn lặp lại tới 5 nm trên kính thạch anh
  • Nanoindentation điều khiển theo độ dịch chuyển để so sánh tính chất cơ học ở độ sâu nhất quán
Download Brochure Learn more