 |
Oxford Instruments นำเสนอเทคโนโลยีการวิเคราะห์คุณลักษณะที่เสริมซึ่งกันและกัน เพื่อช่วยให้คุณเข้าใจวัสดุได้ลึกยิ่งขึ้นจากหลากหลายมุมมอง ติดต่อทีมงานในพื้นที่เพื่อพูดคุยเกี่ยวกับความต้องการด้านการวิจัยและค้นหาโซลูชันที่เหมาะสมเพื่อเร่งการวิจัยของคุณ
เรานำเสนอโซลูชันตั้งแต่การวิเคราะห์ EDS ระดับจุลภาคทั่วไปที่ต้องการความสามารถในการเก็บข้อมูลปริมาณสูง ไปจนถึง NanoAnalysis ขั้นสูงที่ประสิทธิภาพเป็นสิ่งสำคัญ ขับเคลื่อนด้วยตัวตรวจจับ Ultim Max Infinity SDD ซึ่งรวม SDD ขนาดพื้นที่ใหญ่ที่สุดในโลก 170 mm² และรับประกันความละเอียดคาร์บอน 46 eV หรือต่ำกว่าสำหรับเซนเซอร์ทุกขนาด
ตัวตรวจจับ Ultim Max ∞ (Infinity) SDD ปลดล็อกศักยภาพไร้ขีดจำกัดของ EDS สำหรับการวิเคราะห์คุณลักษณะของวัสดุใน SEM โดยผสานความแม่นยำ ความไว และความเร็วที่เหนือชั้น เพื่อขับเคลื่อนซอฟต์แวร์ AZtecLive และแก้โจทย์การวิเคราะห์ที่ซับซ้อนยิ่งขึ้น
Why Infinity
Download Brochure
Learn more
Xplore เป็นตัวตรวจจับ EDS ขนาดกะทัดรัดที่มีความสามารถในการเก็บข้อมูลปริมาณสูงสำหรับการวิเคราะห์ระดับจุลภาคทั่วไปใน SEM ให้คุณภาพและความแม่นยำเช่นเดียวกับตัวตรวจจับ Ultim Max Infinity ขนาดใหญ่ แต่ในแพ็กเกจที่เล็กกว่า ลดต้นทุนและความซับซ้อนโดยไม่ลดทอนความแม่นยำ ความน่าเชื่อถือ หรือคุณภาพ
คุณสมบัติหลัก
AZtecLive เมื่อทำงานร่วมกับ Ultim Max Infinity จะทำให้ศักยภาพไร้ขีดจำกัดของ EDS เป็นจริง พร้อมเวิร์กโฟลว์สำหรับ Live Chemical Imaging การวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ รวมถึง X-ray mapping และ line scanning
เรียนรู้สิ่งที่สามารถทำได้ด้วยตัวตรวจจับ Infinity จาก Oxford Instruments
ตัวตรวจจับ CMOS ได้แก่ Symmetry S3, C-Nano+ และ C-Swift+ มอบประสิทธิภาพยอดเยี่ยมสำหรับการวิเคราะห์ EBSD ทุกประเภท ด้วยการออกแบบไฟเบอร์ออปติกแบบไร้เลนส์ที่เป็นเอกลักษณ์ จึงให้ทั้งความไวสูงและความเร็วในการวิเคราะห์ที่ยอดเยี่ยม
Symmetry S3 เป็นตัวตรวจจับ EBSD แบบ all-in-one อย่างแท้จริงเพียงหนึ่งเดียวในตลาด และพัฒนาบนพื้นฐานของ Symmetry ซึ่งเป็นตัวตรวจจับ EBSD ตัวแรกของโลกที่ใช้เทคโนโลยี CMOS ขั้นสูง
ตัวตรวจจับ EBSD ซีรีส์ C+ ได้แก่ C-Nano+ และ C-Swift+ เป็นตัวตรวจจับระดับเริ่มต้นรุ่นที่ 2 สำหรับแอปพลิเคชัน EBSD ทุกประเภท
C-Nano+ delivers a top acquisition speed exceeding 600 pps with exceptional 311 x 256 pixel resolution patterns: this makes it about 5-6 times faster than comparable CCD-based detectors, , using patterns with at least 4 times as many pixels.
C-Swift+ ใช้เซนเซอร์ CMOS ที่ออกแบบเฉพาะร่วมกับไฟเบอร์ออปติก เพื่อให้ทั้งความเร็วและความไว พร้อมผลลัพธ์คุณภาพสูงแม้กับวัสดุที่ท้าทายที่สุด
AZtecHKL เป็นแพลตฟอร์มซอฟต์แวร์เก็บข้อมูล EBSD ที่ยืดหยุ่นและใช้งานง่าย ออกแบบเพื่อผลลัพธ์คุณภาพสูงอย่างสม่ำเสมอ และผสานรวมกับ EDS อย่างสมบูรณ์ ทำให้การเก็บข้อมูล EBSD หรือ TKD ทุกประเภทเป็นงานที่ทำได้อย่างเป็นระบบ
AZtecCrystal เป็นซอฟต์แวร์ประมวลผลข้อมูล EBSD ที่พร้อมรองรับอนาคต ผสานอินเทอร์เฟซสมัยใหม่กับฟังก์ชันขั้นสูง เช่น การวิเคราะห์ dislocation และ parent grain reconstruction พร้อม MapSweeper สำหรับการวิเคราะห์ชุดข้อมูลซ้ำด้วย pattern matching
Download Brochure Learn more
การออกแบบ Unity รวมเซนเซอร์อิเล็กตรอนกระเจิงกลับและรังสีเอกซ์ไว้ในแพ็กเกจเดียวใต้ pole piece เพื่อเพิ่มการเก็บสัญญาณและลดเงาจากตัวอย่างที่ไม่ได้ขัดผิว ระบบ Unity BEX/EDS ใช้เทคโนโลยี EDS ล่าสุด อิเล็กทรอนิกส์ความเร็วสูง และอัลกอริทึมประมวลผลสเปกตรัมขั้นสูง ให้ความไวสูงขึ้นและเร็วสูงสุด 100 เท่าของระบบทั่วไป จึงวิเคราะห์ตัวอย่างที่ไวต่อการวัด พื้นผิวหยาบ และธาตุปริมาณร่องรอย (>0.1 wt%) ได้ภายใต้สภาวะ SEM มาตรฐาน
BEX เป็นเทคนิคการวิเคราะห์ที่ล้ำสมัยสำหรับ SEM โดยรวมการสร้างภาพจากอิเล็กตรอนกระเจิงกลับและรังสีเอกซ์ (BEX) ไว้ในเทคนิคเดียว ช่วยผสานจุดเด่นของทั้งสองเทคนิคและเร่งการค้นพบ
Learn more
เรียนรู้เพิ่มเติมเกี่ยวกับ BEX และดูว่า Unity จะปฏิวัติการวิเคราะห์ SEM ได้อย่างไรผ่านตัวอย่างหลากหลายประเภท
คุณจะได้เรียนรู้:
กล้องจุลทรรศน์ Raman แบบคอนโฟคอลของ Oxford Instruments ให้การวิเคราะห์คุณลักษณะทางเคมีขั้นสูง พร้อมความเร็ว ความไว และความละเอียดระดับแนวหน้า witec360 มีตัวเลือกสำหรับงบประมาณ สภาพแวดล้อม และตัวอย่างที่หลากหลาย ด้วยสถาปัตยกรรมแบบโมดูลาร์จึงปรับให้เหมาะกับความต้องการและปรับเปลี่ยนได้เมื่อการทดลองพัฒนา รองรับความยาวคลื่น UV ถึง VIS และ NIR พร้อมการส่งลำแสงผ่านไฟเบอร์เพื่อการจัดวางที่ยืดหยุ่น
witec360 กำหนดมาตรฐานสูงสุดด้านประสิทธิภาพสำหรับการสร้างภาพ Raman แบบคอนโฟคอล ทุกองค์ประกอบได้รับการปรับให้เหมาะสมเพื่อประสิทธิภาพการส่งผ่านและความสม่ำเสมอสูงสุด ทำให้ได้ผลลัพธ์แม่นยำภายในไม่กี่วินาที
Why witec360
กล้องจุลทรรศน์ Raman Imaging และ Scanning Electron Microscopes แบบบูรณาการอย่างสมบูรณ์รายแรกของโลก
RISE Microscopy เป็นเทคนิคกล้องจุลทรรศน์แบบสหสัมพันธ์ที่ผสาน SEM และ Raman แบบคอนโฟคอล ช่วยเชื่อมโยงคุณสมบัติพื้นผิวระดับโครงสร้างละเอียดกับข้อมูลสารประกอบระดับโมเลกุล
alphaCART เป็นระบบ Raman แบบคอนโฟคอลเคลื่อนที่สำหรับการนำห้องปฏิบัติการไปหาตัวอย่าง ความเป็นคอนโฟคอลและความไวต่อสัญญาณสูงช่วยให้วัดผ่านกระจกและหน้าต่างได้ และศึกษาก๊าซหรือกระบวนการเคมีภายในห้องปฏิกิริยาได้ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับงานศิลปะ โบราณคดี ธรณีวิทยา และวัสดุศาสตร์
ประโยชน์
AFM Asylum Research ของ Oxford Instruments ใช้อย่างแพร่หลายในวัสดุศาสตร์ พอลิเมอร์ ฟิล์มบาง พลังงาน และชีวฟิสิกส์ นอกจากการสร้างภาพ topography และความขรุขระแล้ว ยังให้ความละเอียดและการวัดเชิงปริมาณที่โดดเด่นสำหรับคุณสมบัติทางนาโนไฟฟ้า นาโนกล และไฟฟ้าเชิงกล Cypher, MFP-3D, Jupiter และ Vero ครอบคลุมความต้องการด้านประสิทธิภาพ ความอเนกประสงค์ และงบประมาณ
AFM รุ่นถัดไปที่วัดการเคลื่อนที่จริงของปลายโพรบอย่างแม่นยำด้วย QPDI เทคโนโลยี QPDI ที่ได้รับสิทธิบัตรและพัฒนาบนความเสถียรของ Cypher ช่วยให้ได้ความแม่นยำ ความเที่ยงตรง และการทำซ้ำที่สูงขึ้น
Quadrature Phase Differential Interferometry:
AFM สำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่ที่มีความละเอียด ความเร็ว ความง่ายในการใช้งาน และความยืดหยุ่นเหนือกว่า – รองรับตัวอย่างเส้นผ่านศูนย์กลางสูงสุด 210 mm
AFM ที่ได้รับการพิสูจน์แล้ว ออกแบบเพื่อความละเอียด ความเร็ว และความอเนกประสงค์ที่ยอดเยี่ยม
AFM ตระกูล Cypher มอบประสิทธิภาพระดับแนวหน้าบนแพลตฟอร์มที่เสถียรสูงและสัญญาณรบกวนต่ำ ช่วยสร้างภาพความละเอียดสูงได้รวดเร็วและรองรับงานวิจัยหลากหลายด้าน
Accuracy, Speed, Operando Testing
FemtoTools ซึ่งปัจจุบันเป็นส่วนหนึ่งของ Oxford Instruments ยังคงเป็นผู้นำด้านโซลูชันการทดสอบทางกลที่มีความแม่นยำสูง ด้วยวิศวกรรมสวิส เทคโนโลยีของเราช่วยให้นักวิจัย วิศวกร และผู้ผลิตวัดแรงขนาดเล็กที่สุดด้วยความแม่นยำสูง
นาโนอินเดนเทชันความเร็วสูงพิเศษภายใต้สภาวะ Operando
iX05 เป็นนาโนอินเดนเตอร์แบบตั้งอิสระที่ใช้ MEMS และได้รับการปรับให้เหมาะสำหรับการวิเคราะห์คุณสมบัติวัสดุในสภาวะ Operando เช่น อุณหภูมิสูง ต่ำ และอัตราความเครียดสูง
Why iX05?
Operando Nanoindentation
Ultra-Fast Nanoindentation
Ultra-High Resolution
นาโนอินเดนเทชันความละเอียดสูงพิเศษพร้อมความสามารถในการทำซ้ำที่เหนือชั้น เพื่อตรวจจับการเปลี่ยนแปลงที่เล็กที่สุดของความแข็งและโมดูลัส
Download Brochure Learn more
นาโนอินเดนเตอร์แบบ in-situ FIB/SEM สำหรับการทดสอบการอัด การดึง และการแตกหักของตัวอย่างระดับไมโครและนาโน พร้อมการสร้างภาพความละเอียดสูงด้วย SEM
Why NMT04?
นาโนอินเดนเตอร์แบบตั้งอิสระสำหรับการวัดคุณสมบัติเชิงกลเฉพาะที่ของวัสดุด้วยความละเอียดสูงและความเร็วสูงในอากาศ ของเหลว หรือก๊าซเฉื่อย
Why iO4?
© Oxford Instruments 2026
