AZtec for EDS, EBSD, BEX and RISE

 

AZtec
for EDS, EBSD, BEX and RISE

AZtec은 전자현미경 분석을 위한 종합 소프트웨어 플랫폼으로, 빠르고 정확한 X선 미세분석과 강력한 재료 특성 분석 기능을 제공합니다. EDS, EBSD, BEX 및 상관 분석(Correlative) 워크플로우를 지원하여 다양한 재료 분석 응용 분야에서 신속하고 효율적인 분석과 신뢰도 높은 결과를 제공합니다.

최신 AZtec 소프트웨어 플랫폼 업데이트를 확인해 보세요. 새로운 기능과 향상된 워크플로우를 통해 더욱 빠르고 강력한 재료 특성 분석을 경험할 수 있습니다.

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AZtec 최신버전 무료 업그레이드

AZtec 사용자의 소프트웨어 업그레이드가 최초로 무상 제공됩니다. 지금 업그레이드하여 최신 AZtec 기능과 향상된 성능을 경험해 보세요. EDS, EBSD, BEX 및 RISE 워크플로우의 성능과 활용도를 극대화할 수 있습니다.

최신 버전의 주요 신규기능: 

AZtecRISE 네비게이터: AZtec 내에서 RISE 분석에 특화된 워크플로우를 제공합니다. Raman Data Import 기능을 통해 Control 소프트웨어에서 획득한 Raman 이미지를 AZtec 프로젝트에 직접 저장할 수 있습니다.

Cartography Mode의 Magic Wand 선택 기능: 한 번의 클릭으로 불규칙한 영역을 간편하게 선택하여 Cartography 분석을 수행할 수 있습니다.

Batch Export 및 HTML Report: 프로젝트 내 모든 EDS 데이터를 빠르게 내보내고, HTML 형식의 보고서를 생성할 수 있어 분석 결과를 효율적으로 정리하고 공유할 수 있습니다.

새로운 AutoPhaseMap: X-ray 맵 데이터를 기반으로 상(phase)을 자동으로 식별하고, 명확하고 이해하기 쉬운 상 분포 맵을 생성하는 새로운 기능입니다.

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AZtecHKL – 인공지능으로 더욱 강력해진 EBSD 분석

전자현미경에서 EBSD 분석 및 결정학적 특성 분석을 위한 고급 소프트웨어 플랫폼입니다. 실시간 데이터 수집, 신속한 분석, EDS와의 원활한 통합을 제공하여 일상적인 분석부터 고급 재료 연구까지 필요한 속도, 정확도 및 유연성을 제공합니다.

EBSD Shadow Masking: EBSD Shadow Masking AI를 활용하여 EBSD 밴드 검출을 방해하는 동적 EBSP 그림자를 제거합니다. 특히 파단면 조사, 고장 분석 및 집속 이온 빔(FIB) 트렌치 분석에 유용합니다.

Tailored Workflow: Oxford Instruments의 EBSD 전문 기술을 기반으로 시스템과 시료에 맞게 데이터 수집 파라미터를 최적화하는 라이선스 기반 솔루션입니다. 맞춤형 단계별 내비게이터를 통해 더욱 빠른 설정과 안정적이고 표준화된 워크플로우를 지원합니다.

Intelligent EBSD Acquisition Tool: AutoCal은 시료와 검출기 간 기하학적 조건의 변화에 따라 교정 파라미터를 자동으로 계산하여, 간편하고 원활한 EBSD 데이터 수집을 지원합니다.

통합형 드리프트 보정 도구인 AutoLock은 EBSD와 EDS 데이터를 동시에 보정하여 더욱 정확한 분석 맵을 제공합니다.

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관련 제품 라인업 알아보기

Ultim Max Infinity

Ultim Max Infinity

Ultim Max Infinity SDD 검출기는 EDS의 무한한 가능성을 실현합니다. 세계 최대 면적의 170 mm² SDD를 비롯해, 모든 센서 크기에서 46 eV 이하의 보장된 Carbon resolution을 제공합니다.

CMOS EBSD Detectors

CMOS EBSD Detectors

당사의 CMOS 기반 EBSD 검출기 제품군은 모든 유형의 EBSD 분석에서 뛰어난 성능을 제공합니다. 탁월한 감도와 빠른 분석 속도를 결합하여, 다양한 시료와 분석 조건에서도 최적의 데이터 품질을 제공합니다.

Raman-SEM Microscopes

Raman-SEM Microscopes

RISE Microscopy는 SEM과 공초점 Raman 이미징을 결합한 혁신적인 상관 현미경 분석 기술입니다. RISE Microscopy를 통해 시료 표면의 초미세 구조적 특성과 분자 화합물 정보를 상호 연계하여 분석할 수 있습니다.

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