AZtec 使用者首次可享有免費軟體升級。立即升級，體驗最新的 AZtec 功能與效能提升，全面發揮 EDS、EBSD、BEX 及 RISE 工作流程的效能與應用潛力。
AZtecRISE Navigator: 在 AZtec 中提供專為 RISE 分析設計的工作流程。透過 Raman Data Import 功能，可將 Control 軟體中的 Raman 影像直接儲存至 AZtec 專案中。
Cartography Mode 的 Magic Wand 選取功能: 只需單擊一下，即可輕鬆選取不規則區域，以執行 Cartography 分析。
Batch Export 與 HTML Report: 專為需要快速匯出專案中所有 EDS 資料的使用者所設計，可更有效率地整理與分享分析結果。
全新 AutoPhaseMap: 透過 X 射線映射資料自動識別相（phase），並產生清晰、易於解讀的相分布圖。
先進的電子顯微鏡 EBSD 分析與晶體學表徵軟體平台。提供即時資料擷取、快速分析，以及與 EDS 的無縫整合，為日常分析與進階材料研究提供所需的速度、準確度與靈活性。
EBSD Shadow Masking: 運用 AI 移除干擾 EBSD 晶帶偵測的動態 EBSP 陰影，特別適用於斷裂表面研究、失效分析及聚焦離子束（FIB）溝槽分析。
EBSD Shadow Masking: 結合 Oxford Instruments 的 EBSD 專業技術，依據您的系統與樣品精準調整資料擷取參數。透過客製化的逐步導引流程，加快設定速度，並建立穩定且標準化的分析工作流程。
EBSD Shadow Masking: AutoCal 可根據幾何條件的變化，自動計算校正參數，實現順暢且自動化的 EBSD 資料擷取。
AutoLock, 整合式漂移校正工具，可同步校正 EBSD 與 EDS 資料，進而產生更精準的分析圖譜。
Ultim Max Infinity SDD 偵測器充分釋放 EDS 的無限潛力，提供全球最大 170 mm² SDD，並針對所有感測器尺寸，保證 46 eV 或更佳的 Carbon resolution。
我們的 CMOS EBSD 偵測器產品系列可為各類 EBSD 分析提供卓越的效能。結合無與倫比的靈敏度與優異的分析速度，即使面對不同樣品與分析條件，仍能提供最佳的資料品質。
RISE Microscopy 是一項創新的關聯式顯微分析技術，結合 SEM 與共軛焦 Raman 成像。透過 RISE Microscopy，可將樣品表面的超微結構特性與分子化合物資訊相互關聯，實現更全面的材料分析。
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