牛津仪器显微分析技术在金属失效分析中的应用

牛津仪器显微分析技术在金属失效分析中的应用

课程简介

金属材料的失效分析是工业分析中重要的环节,其目的在于找出引起产品失效的直接原因进而对产品生产及服役过程中的薄弱环节加以改进。使用扫描电镜及能谱、波谱及EBSD等显微技术进行金属材料的失效分析已经越来越普遍,如裂纹源处夹杂物成分的确定,夹杂物统计分析,成分偏析的表征,晶粒大小统计、织构分析、应力分析等。但如何更有效的将多种显微分析手段灵活应用于具体的材料或失效分析中,这也是广大工作者关心的问题之一。

 

在本次网络研讨会中,我们有幸邀请到中车戚墅堰所失效分析高级工程师潘安霞老师,为大家带来关于机械装备关键零部件制造工艺缺陷分析思路及案例。此外,牛津仪器的应用专家将结合牛津仪器最新EDS、WDS及EBSD等产品的特点及技术进步,详细介绍牛津仪器显微分析技术在金属失效分析中的应用

主讲人

 

潘安霞高级工程师

中车戚墅堰机车车辆工艺研究所

潘安霞,中车戚墅堰所失效分析高级工程师,现任全国机械工程学会失效分析分会委员、中国中车技术专家,中车计量理化培训讲师,主要从事轨道交通行业齿轮、紧固件、弹簧等关键零部件失效分析研究工作,著有《紧固件失效分析与案例》。

徐宁安

牛津仪器高级应用科学家

2006年硕士毕业于北京科技大学材料物理与化学专业,主要进行利用透射电镜研究金属间化合物微观结构表征相关工作。毕业后先后任职于江苏省(沙钢)钢铁研究院及舍弗勒投资(中国)有限公司,主要从事利用显微分析手段进行产品开发、失效分析等工作。2014年加入牛津仪器,主要负责EDS、EBSD、WDS及OP产品的推广及技术支持。

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On Demand
Time:

On Demand

Duration:

30mins

Language:

Chinese

Businesses:

NanoAnalysis

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