Raman 분광법을 활용한 이차전지 및 반도체 소재의 첨단 분석 기술

OI Academy | Webinar
Raman 분광법을 활용한 이차전지 및 반도체 소재의 첨단 분석 기술

• 일시 : 2026년 7월 2일 오후 2시 – 3시 20분 (80분)
• 발표 : 한국표준과학연구원(KRISS) 권혁상 박사
• 언어 : 한국어

Oxford Instruments가 준비한 이번 웨비나에서는 KRISS(한국표준과학연구원)에 재직 중인 권혁상 박사님을 모시고, Raman 분광법을 활용한 이차전지 및 반도체 소재 분석의 최신 연구 동향과 실제 응용 사례를 소개합니다.

Raman 분광법은 비파괴적이고 고해상도의 분석 기법으로, 이차전지와 반도체 산업에서 소재 특성 평가와 품질 관리를 위한 핵심 분석 도구로 활용되고 있습니다.

이번 강연에서는 Raman 분광법을 활용한 첨단 분석 기술과 실제 응용 사례를 소개합니다. 이차전지 분야에서는 양극재의 구조 변화 모니터링, 도전재 분산도 정량 분석, 그리고 충·방전 과정 중 소재의 구조 변화를 실시간으로 관찰할 수 있는 Raman 융합 분석 기술을 중심으로 살펴봅니다. 특히 극한 온도 환경에서도 적용 가능한 실시간 분석 시스템 개발 사례를 통해 배터리 제조 공정의 조기 진단 및 품질 향상 방안을 제시합니다.

반도체 분야에서는 웨이퍼 검사 효율을 높이기 위해 개발된 고속·광시야 Raman 이미징 기술과 함께, SiGe 합금의 조성 및 응력(Strain/Stress) 분석 기법을 소개합니다. 또한 편광 Raman 분광법을 활용한 결정 구조 특성 평가와 응력 이방성 분석 사례를 통해 반도체 소재 및 소자의 정밀 특성 분석 방법을 공유합니다.

이차전지와 반도체 산업에서 요구되는 비파괴·고해상도 분석 기술의 최신 트렌드와 활용 방안을 확인하고 싶은 연구자 및 엔지니어 여러분의 많은 관심과 참여를 바랍니다.