2023年10月24日(火)、日本電子株式会社とオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は、「SEM用分析装置の新提案」をテーマとしたハイブリッドジョイントセミナーを開催しました。
視聴フォームに入力し、送信ボタンを押していただくと、本セミナーで開催された4講演の録画を講演毎にご覧いただけます。また講演資料もダウンロードできます。
タイトル「電子顕微鏡ラインナップのご紹介」
【講演者】日本電子株式会社 田中 洋充 様
(約17分)
タイトル「新型BEXイメージング検出器「Unity」のご紹介と応用例」
【講演者】オックスフォード・インストゥルメンツ(株)中島 里絵
(約29分)
タイトル「In-situ加熱実験対応 EDS/EBSDと新型WDS分析システムのご紹介」
【講演者】オックスフォード・インストゥルメンツ(株)三井 千珠
(約33分)
タイトル「SEMラマン分析システム RISEの原理と応用例」
【講演者】オックスフォード・インストゥルメンツ(株)村田 泰斗
(約34分)
On Demand
Duration:30 minutes
Language:Japanese
Businesses:NanoAnalysis