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日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ
SEM / EBSD / ナノインデンター ジョイントウェビナー 2025

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このウェビナーは中国語で行われます

シンガポール/台湾時間 午後2時 | 60分間

日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ
SEM / EBSD / ナノインデンター ジョイントウェビナー 2025


開催概要

恒例となりましたジョイントセミナーは、今年度ウェビナーにて開催させていただくことになりました。 今回はオックスフォード・インストゥルメンツが新たに販売を始めたSEM用ナノインデンターを軸にナノインデンターのご紹介・解析例、ナノインデンターを使用するためのJEOL SEMのご紹介、ナノインデンターとEBSDのデータ相互性などをご紹介いたします。 
本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。皆さまのご参加をお待ちしております。

受講にあたってのお願い：

・競合他社のご登録はお断りする場合がございますので、ご了承ください。
お申込みはこちら

申込方法：こちらのボタンよりお申込みください。視聴方法：Zoom
（フォーム提出後に Zoom URL の記載されたメールが届きます。お客様のセキュリティ設定によっては弊社からのメールが届かない場合がございます。当日中にご連絡が届かない場合はウェビナー事務局（sales1@jeol.co.jp）までご連絡ください。）

2025年11月11日（火）
時間:

15：30～17：00

会場：

Zoom
Webセミナー（参加費無料,先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)

発表資料：

講演後のアンケートにご記入いただくとダウンロードができます。   

共催：

日本電子株式会社
オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社

当日のプログラムは下記を参照ください。

日時

題目 / 要旨

講演者

15:30-16:00

高性能＆ハイスループットSEM ～JSM-IT510/710HR/810シリーズのご紹介～

走査電子顕微鏡 (SEM)は、試料表面の微細構造をμm～nmスケールで観察・分析できる装置として、材料科学、半導体、ライフサイエンスなど、幅広い分野で活用されています。中でも、JSM-IT510/710HR/810シリーズは、①ナノインデンターシステムが搭載可能な大型試料室による高い拡張性、②優れた操作性、③高分解能・高スループット、という特長を備え、研究開発から品質管理まで多様なニーズに応えます。 本講演では、特にユーザーの皆様から高評価を得ている操作性と拡張性に焦点を当て、JSM-IT510/710HR/810シリーズの魅力をご紹介します。

日本電子株式会社
SI営業本部
SI販売促進室
中嶌 香織

16:00-16:30　

SEM用ナノインデンターFT-NMT04のご紹介

オックスフォード・インストゥルメンツは新たにSEM用ナノインデンターの販売を開始しました。 FT-NMT04はスイスのFemtoToolsにより特許取得されたマイクロエレクトロメカニカルシステム (MEMS) 技術により比類のない解像度、再現性、動的安定性を備えています。これにより従来では不可能であった高速ナノインデンテーションによるメカニカルマッピング分析が可能になっています。 本講演ではFT-NMT04の様々な解析事例をご紹介します。

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業本部
村田 泰斗

16:30-17:00

ナノインデンターとEBSDのデータ相互性

EBSDは電子線がサンプルにより回折されてできた菊池パターンを使用して様々な結晶情報を取得する分析システムです。 ナノインデンターにより得られる硬さ情報とEBSDにより得られる結晶情報（方位、結晶粒界など）を組み合わせることで最先端の材料開発が可能になります。 本講演ではEBSDシステムをご紹介した後、ナノインデンターとEBSDによるデータ相互性をご説明します。

オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業本部
中島 里絵

本件に関するお問い合わせ先

日本電子株式会社　デマンド推進本部 ウェビナー事務局
E-mail：sales1@jeol.co.jp

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