Introduction à la spectrométrie dispersive en longueur d'onde (WDS / WDX)

La spectrométrie de rayons X à dispersion de longueur d’onde (WDS / WDX) est une technique microanalytique qui mesure le même signal de rayons X que la méthode de caractérisation élémentaire à dispersion d’énergie (EDS) plus couramment utilisée sur un microscope électronique à balayage (MEB). Cependant, en raison de la résolution spectrale plus élevée que le WDS peut atteindre, l'ajout d'un spectromètre WD apporte des avantages significatifs ; (1) la capacité de résoudre les pics de rayons X qui se chevauchent dans le spectre EDS, ce qui permet une identification et une quantification plus précises des éléments ; (2) des rapports pic/fond plus élevés et donc des limites de détection plus basses (<100 ppm pour beaucoup des éléments). Contrairement à l'EDS, qui génère instantanément un spectre pour toute la gamme possible d'énergies, le WDS mesure les rayons X d'une seule énergie à la fois et est donc généralement plus lent à produire un résultat. Cependant, dans le logiciel AZtecWave, WDS et EDS peuvent être combinés pour produire des résultats qui bénéficient des avantages des deux techniques - vitesse, précision et sensibilité.

Ce webinar, présenté à l'origine en anglais par le Dr Rosie Jones, montre le WDS et son fonctionnement. Il traite des avantages d'un spectromètre WD avec une géométrie de cercle de Rowland et des cristaux entièrement focalisés, comme on le trouve sur les microsondes et le spectromètre Wave intégré avec le logiciel AZtecWave. Des exemples d'applications réelles et les résultats obtenus à l'aide de WDS et EDS basés sur MEB sont présentés pendant la présentation.

Ce que vous apprendrez :

• Les principes de la spectrométrie dispersive en longueur d'onde (WDS, WDX)
• Comment fonctionne le spectromètre Oxford Instruments Wave et comment il améliore un système MEB-EDS
• Quand effectuer une analyse WDS et pour quelles applications typiques