Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) kann mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS), Raman-Imaging und Rückstreuelektronen-Imaging in einer gemeinsamen Vakuumkammer kombiniert werden. Dadurch wird die strukturelle Schärfe des REMs durch elementare, molekulare und kristallografische Charakterisierungstechniken ergänzt. Speziell für die Materialforschung ergeben sich dadurch neue Möglichkeiten zur umfassenden Probencharakterisierung.
Unsere Referenten werden zunächst die einzelnen Methoden beschreiben und aufzeigen, wie ihre Kombination ein komplexes Verständnis der Proben ermöglicht. Ein weiterer Schwerpunkt wird sein, wie der Ablauf einer Standardmessung beschleunigt werden kann und wie mehr Proben in kürzerer Zeit gemessen werden können. Die Anwendungsbeispiele konzentrieren sich in erster Linie auf die Analyse von Materialien aus der Batterieforschung.
Lernziele:
On Demand
Duration:45 MINS
Language:German
Businesses:NanoAnalysis, Raman
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