続 AFMの理解に向けた深層基礎講座「第2回」
全8回

OI Academy | Webinar
原子間力顕微鏡基礎 (2) – 測定感度と分解能 –

原子間力顕微鏡（AFM）は1990年代初頭の実用化以来、学術から産業分野まで幅広く利用されています。近年は、段差・粗さ測定だけでなく、複合材料の弾性率や電子デバイスなど、多様な機能を活かした応用が広がっています。

本講座では、AFMを現在使用中またはこれから使用予定の研究者・技術者の方々を対象に、京都大学名誉教授・山田啓文先生を講師に迎え、AFMの深めの基礎、派生した測定機能、最新技術や将来の可能性について新年度も引き続き分かりやすく学んでいただきます。

多くの方々にAFMを深く理解していただけることを願っています。

第2回目のテーマは「原子間力顕微鏡基礎 (2) – 測定感度と分解能 –」です。

• キーポイント：AFMにおける測定雑音
• フォーカス：熱雑音詳細
  • ファンデルワールス力雑音変調とバンド励起法
  • 静的モードとダイナミックモードの対比 –
  (FD-based AFM/Peak Force Tapping法との関連)