AFMの理解に向けた深層基礎講座「第3回」 | 全12回

OI Academy | Webinar
AFM測定雑音・感度および動作環境

原子間力顕微鏡(AFM)は、1990代初期に実用化されて以降、学術研究分野に止まらず、産業分野においても幅広く利用されています。近年では試料表面の段差や粗さ測定の他、複合材料の弾性率評価や電子デバイスの電気物性など、幅広い機能を活かしてその用途が広がり、多くの研究者・技術者の方々に利用されています。

毎月末の金曜日、全12回の本講座は、AFMをご利用になられている・これから使われるご予定の研究者・技術者の方々にお役立ていただける内容を目指し、長年、AFMの装置開発とその応用をご研究されてきた京都大学名誉教授山田啓文先生を講師に迎えて、AFMを始めそこから派生してきた測定機能の原理の理解を深めるとともに最新機能や将来の可能性について学んでいただく内容となっています。

多くの皆様にAFMを深く理解いただけることを願っています。

第3回目のテーマは「AFM測定雑音・感度および動作環境」です。

★ AFMにおける測定雑音
・雑音解析の基礎、AFMにおける測定雑音要因

★ 動作モードと感度・雑音の関係
・ AFMの各動作モードにおける感度・雑音特性

★ 動作環境との関係