일시 : 2025넌 8월 28일 목요일 10:00 – 16:30
장소 : 서울대학교 글로벌공학교육센터(GECE) 517호
인원 : 선착순 50명
기타 : 참가비 무료, 점심 포함
Oxford Instruments에서는 전국의 국공립 대학교, 연구기관, 일반 기업체의 전자현미경 담당자 여러분을 모시고, EBSD(전자후방산란회절) 분석 기술의 원리와 활용법을 깊이 있게 다루는 전문 강좌를 개최합니다.
이번 세미나는 EBSD 분석 이론뿐만 아니라, 실제 연구 현장에서 바로 적용 가능한 소프트웨어 활용법과 다양한 연구 사례 공유를 통해 실질적인 분석 역량 향상을 목표로 합니다. 또한, 참가자 간의 활발한 Q&A 및 정보 교류를 통해 장비 활용도를 높이고 연구 활성화에 기여하고자 합니다.
Time |
Presentation Topic |
10:00 – 11:30 |
EBSD 기초 (Indexing, Orientation and Texture) |
11:30 – 13:00 |
점심 |
13:00 – 13:30 |
EBSD Geometry and SEM Conditions |
13:30 – 14:00 |
TKD |
14:00 – 15:00 |
Aztec Settings (Tech & Tips) |
15:00 – 16:00 |
Aztec Crystal (Applications) |
16:00 – 16:30 |
Q&A |
Location
서울대학교 글로벌공학교육센터(GECE)
Date
28 August 2025
Room
#517
© Oxford Instruments 2025